冯容美扫描电镜和透射电镜原理区别是什么

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扫描电镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)和透射电镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM)是两种常用的电子显微镜,常用于观察微小物体的结构和性质。虽然它们都是电子显微镜,但它们在原理上还是有一些区别的。

扫描电镜的原理是通过扫描电子束来获取样本的电子图像。当电子束撞击样本时,它会被散射,并且只有被探测器捕捉到的电子才能形成图像。扫描电镜的探测器通常是一个热电子发射源,它会在高温下产生电子,这些电子会被加速,并形成电子图像。由于扫描电镜的扫描速度非常快,所以它可以用来观察动态过程。

透射电镜的原理是通过让电子束穿过样本,然后检测电子束的透射情况来获取样本的电子图像。当电子束穿过样本时,它会被散射,但只有被透射的电子才能形成图像。透射电镜的探测器通常是一个热电子发射源,与扫描电镜相同。话说回来, 透射电镜的电子束不是被加速的,所以它可以形成比较清晰的图像。

两种显微镜的扫描方式也不同。扫描电镜使用扫描探测器来扫描样本表面,所以它只能观察到扫描方向上的电子。透射电镜则使用透射探测器来检测电子束的透射情况,所以它能够观察到透过样本的电子。

扫描电镜和透射电镜在原理上有很大的区别。扫描电镜使用扫描探测器来扫描样本表面,透射电镜则使用透射探测器来检测电子束的透射情况。由于它们的探测器不同,所以它们观察到的电子图像也有所不同。扫描电镜可以观察到动态过程,而透射电镜则可以形成清晰的图像。

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